「電気診断技術/Q(t)計測システム」のご紹介

 電界および温度の直流絶縁劣化評価のための新たな電流積分電荷量Q(t)測定法をご紹介いたします。

【技術資料】

Ⅰ.「電荷蓄積の計測と量子化学計算による解析」 【日本語 (PDF 2,859KB)】

  「Measurement of Space Charge Accumulation in Dielectric Materials and Analysis using Quantum Chemical Calculation
  【English (PDF 2,334KB)】

Ⅱ. 「蓄積電荷の計測法とQ(t)法の位置付け」  【日本語 (358KB)】

電気診断技術/Q(t)計測システムは、

 ・電荷蓄積を評価する「計測技術」

 ・再生可能エネルギー導入に必要な 「直流誘電・絶縁材料の評価と解析」

 ・電気自動車の普及を支える 「電子デバイスの直流誘電・絶縁材料の評価と解析」

 ・エレクトレット/分極/電荷蓄積の特性評価と解析

等、幅広く適用されることが期待できます。

 

本技術資料執筆者 東京都市大学 高田達雄名誉教授のご紹介

東京都市大学名誉教授。1939年山梨県生まれ。
東北大学大学院工学研究科で電気及び通信工学(高電圧工学)を専攻。
武蔵工業大学(現/東京都市大学)教授、2006年より同名誉教授。
工学博士。主として高分子誘電体中の帯電現象と空間電荷分布測定の電子計測技術の研究に従事。
1981~83年米国マサチューセッツ工科大学客員研究員。
1999年に米国電気電子学会(IEEE)のWhitehead Memorial Awardを 受賞し、IEEE Life Fellow。
電気学会業績賞受賞。
お問い合わせ E-mail: takada@a03.itscom.net  

 ※1. 本測定法の評価にあたり、株式会社 エー・アンド・デイは、「空間電荷蓄積評価装置 AD-9831」を設計・開発・販売しております。
 ※2. 改良のため当サイト内容を予告なく変更する場合があります。また、当サイトに記載されている製品の外観・仕様は開発中または改良のため、  予告なく変更される場合があります。